\\ LumiTop 4000 测量解决方案
Micro LED是备受期待的新型显示技术。它尺寸小于100微米,具备特殊的光学特性,能够制造出带有宽色域、高对比度和高分辨率的显示器。然而,在大规模生产中,Micro LED对于生产的每一个阶段都提出了新的挑战。为了在一个晶圆上高效测试数千颗 Micro LED,制造商必须一次覆盖尽可能多的Micro LED,并同时进行快速准确的光学测试。只有使用带有实时光谱校准的仪器进行二维测量,才能既保证测量效率又避免测量误差。
在Mini/Micro LED生产的早期阶段就实施光学质量测试,可有效降低下游制程链的次品剔除率,从而提高生产线的经济效率。针对Mini/Micro LED的全天候(24/7)在线检测需求,德国 Instrument Systems 提供基于二维相机的独特测量解决方案,可在指定周期 (TT) 内,快速产生二维并具有像素级分辨率的精确光学分析。该方案结合LumiTop 4000 成像色度仪,CAS 高精度光谱仪及光电二极管,兼具三種不同類型測量儀器的優勢。搭配100 mm微距镜头,可在一个测量站完成Mini/Micro LED晶圆及阵列的所有光学测试,例如:均匀性测量 (亮度和色度),缺陷检测 (Mura),色彩校准,伽马指数,闪烁和亮度调节等。其视场角 (FoV) 约为 1.0×1.4 cm,可同时测量数千颗Micro LED,最小像素尺寸低至 30 微米。
LumiTop 4000具备12 MP分辨率。配备的硬件触发器实现了时间优化的仪器控制,并能同步测量及数据处理。独特的LumiTop测量技术确保高色彩精度,特别适用于测量窄带光谱Micro LED。即使在生产批次中存在明显的光谱波动时,也可以进行精确的色彩校准LED 测量。CMOS传感器扩展了动态范围,适合测量可通过滤光片调整至最高亮度的调制显示器及光源。此外,测量系统搭配的LumiSuite软件可以对读数进行广泛的分析,产出强度和颜色分布图等。软件的演算法并可根据使用者的定义条件搜寻并标记像素缺陷。除了Mini/Micro LED产线测量外,也适合实验室研发应用。
LumiTop测量解决方案是广受业界信赖的的显示屏测量标准。若您有任何关于显示器或Mini/MicroLED测量的问题,请随时与我们联系,我们的光测团队很乐意为您提供解决方案。
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