光电器件null检测 | 恒温恒湿试验箱检测半导体光电器件的耐寒耐热性能-广东皓天检测仪器有限公司

方案摘要

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恒温恒湿试验箱可将半导体光电器件进行低温、高温、试验时间、程序1次性设定，由设备自行走程序运行，除了半导体外，同时还是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，用于测试和确定半导体电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。

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配置单

方案详情

恒温恒湿试验箱检测半导体光电器件的耐寒耐热性能

实验目的：

恒温恒湿试验箱可将半导体光电器件进行低温、高温、试验时间、程序1次性设定，由设备自行走程序运行，除了半导体外，同时还是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，用于测试和确定半导体电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。

实验室使用的仪器设备和耗材试剂：

一台225L的恒温恒湿试验箱，设置温湿度条件为85℃85%R.H，连续测试72个小时。在设备运行前，请仔细检查电路系统是否打开，水源是否充足，一桶纯净水等待做湿度测试时候要用到，然后悬挂好恒温恒湿测试专用的测试纱布与湿度传感器，轻轻套好即可。

在整个测试过程中，三天后，设备有条不紊地运行着，正常工作。在双85测试条件下持续测试半导体光电器件3天后，试样完好无损，依然能在通电负载的情况下，还能继续正常工作。

试验结果表面，该批光电器件完全符合市场需求，满足消费者的使用要求。可按照此批半导体光电器件目前的工艺生产。

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文献贡献者

广东皓天检测仪器有限公司

银牌会员丨第3年

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