解决方案_日本lasertec株式会社

日本lasertec株式会社

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地矿(1)
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半导体(3)

共聚焦显微镜方解石解理面溶解过程观察

检测样品非金属矿产

检测项目表征

地矿 | 2022/10/04
共1台
共聚焦显微镜+SAW滤波器+晶圆缺陷 IDT形状

检测样品电子元器件产品

检测项目物理性质>其他

电子/电气 | 2022/08/05
共2台
共聚焦显微镜+光刻胶+形状

检测样品其他

检测项目膜厚及形状

半导体 | 2022/08/03
共1台
共聚焦显微镜+透明基板上金属膜+膜厚

检测样品电子元器件产品

检测项目物理性质>其他

电子/电气 | 2022/08/02
共1台
共聚焦显微镜+透镜+防反射膜品质

检测样品电子元器件产品

检测项目物理性质>外观/形貌/宽高比

电子/电气 | 2022/08/02
共1台
共聚焦显微镜+氮化镓晶圆+CMP后划伤

检测样品其他

检测项目缺陷及3D形状测量

半导体 | 2022/08/02
共1台
共聚焦显微镜+半导体激光器+缺陷检测及尺寸测量

检测样品其他

检测项目晶圆缺陷、光波导关键尺寸

半导体 | 2022/07/29
共1台

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