全自动光学膜厚测量系统

全自动光学膜厚测量系统

参考价:¥1000 - 4999
型号: TFX3000--300mm
产地: 上海
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产品详情

 TFX3000--300mm全自动精密薄膜测量系统是睿励科学仪器(上海)有限公司自主研发和生产的具有完全自主知识产权的集成电路生产线工艺检测设备。本产品的应用范围包括刻蚀(Etch)、化学气相沉积(CVD)、光刻(Photolithography)和化学机械抛光(CMP)等工艺段的测量,能准确的确定半导体制造工艺中的各种薄膜参数和细微变化(如膜厚、折射率、应力等)。

睿励科学仪器(上海)有限公司为您提供全自动光学膜厚测量系统TFX3000--300mm,nullTFX3000--300mm产地为上海,属于国产白光干涉测厚仪,除了全自动光学膜厚测量系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多白光干涉测厚仪,null客服电话,售前、售后均可联系。

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