CT系统

CT系统

参考价:面议
型号: CA20型
产地: 德国
品牌: YXLON
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核心参数
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产品详情

CA20旨在以最高分辨率提供卓越的2D3D图像,它允许对微米级细节进行最快的检测,并有助于缩短复杂3D IC的上市时间。

CA20亮点

· 专为半导体行业设计

· 无损技术可在几分钟内对焊料凸点进行三维洞察

· 通过可靠和准确的技术获得可重复的结果,旨在支持稳定的检测程序

· 高效的软件辅助审查,包括使用 Void Insights 进行自动空隙分析

· 用于保护 X 射线敏感组件的剂量管理器

使用 3D X 射线加快工艺开发虽然使用破坏性方法进行检测可能需要数周时间,但3D X射线可以为您的研发工程师提供他们可以立即使用的结果。作为一种无损检测 (NDT) 系统,CA20 可在几分钟内为您的 IC 内部提供纳米细节的清晰 3D 图像。监控您的互连过程,快速发现缺陷,并将您的见解反馈到该过程中。

识别关键的先进封装缺陷3D X 射线可产生高分辨率的 3D 体积,使制造商能够在创纪录的时间内测量和检查凸块并识别出最小的缺陷。查看关键缺陷,例如非湿性、头部在枕中或颠簸移位,并确定支架高度,以前所未有的方式监控模具倾斜或翘曲。

CA20

系列:加利福尼亚州

工业:先进封装, 半导体, 电子, 科学与研究

缺陷尺寸:<1 μm<50 μm<1 mm

产品尺寸: <435 mm

操作模式:3D X射线,2D / 3D

CA20检测在研发和生产中的应用

基板上的芯片,包括扇出封装、焊接连接(C4 凸点和铜柱)

2.5 3D IC 封装焊接连接,包括微凸块

基板条焊料凸点

传感器

MEMSMOEMS


深圳市矢量科学仪器有限公司为您提供YXLONCT系统CA20型,YXLONCA20型产地为德国,属于其他晶圆缺陷检测设备,除了CT系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其他晶圆缺陷检测设备,客服电话,售前、售后均可联系。

售后服务
  • 产品货期: 60天
  • 培训服务: 安装调试现场免费培训

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