| 型号： | Detectors |
| 产地： | 德国 |
| 品牌： | 表理 |
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品牌介绍
表理（SurfaceConcept）是一家专注于精密光电元器件的公司，其产品主要涵盖延迟线探测器、粒子精密计数、计数成像，以及相关的快速电子学（皮秒）。这些产品可以为用户组建大型飞行动量谱仪、原子探针、电子显微镜和其他精密光学产品，提供显著的性能提高和各种便利。
产品照片
延迟线探测器
延迟线探测器原理
微通道板探测器MCP
透射电子显微镜探测器
高帧CMOS相机
主要技术参数
序号 | 项目 | 参数 |
1 | 延迟线探测器有效面积 | 10mm– 1200mm直径 |
2 | 延迟线探测器可选探测粒子 | 光子、电子、冷中子、重离子（YAG屏） |
3 | MCP有效面积 | 18mm-80mm直径 |
4 | MCP最大计数 | 5Mcps |
5 | MCP时间分辨率 | 200pS（典型值） |
6 | 透射电镜有效面积 | 40mm直径 |
7 | 透射电镜像素数 | 1200 x 1300 |
8 | CMOS相机像素 | 1920 x 1440像素 |
9 | CMOS相机帧数 | 417fps (@8bit) ，234fps(@12bit) |
应用领域
序号 | 应用领域 |
1 | 电子和离子的飞行时间分析（TOF） |
2 | 时间相关或时间符合光子和粒子成像 |
3 | 用于x射线和电子能谱的门控成像 |
4 | 检测尺寸可达120mm的大面积真计数成像(XPS, UPS, EELS) |
5 | 电子能量和飞行时间分析仪(XPS, UPS, EELS) |
6 | 飞行时间光电电子显微镜(ToF PEEM) |
7 | 中能离子散射与飞行时间分析(MEIS - ToF) |
8 | 原子探针断层扫描/显微镜(APT, 3D-AP) |
9 | x射线吸收/发射光谱(XAS, XES) |
10 | 门控对比增强x射线皮秒成像 |
11 | 荧光寿命成像(FLIM, FLIM- fret) |
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