型号: | Electronics |
产地: | 德国 |
品牌: | 表理 |
评分: |
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品牌介绍
表理(SurfaceConcept)是一家专注于精密光电元器件的公司,其产品主要涵盖延迟线探测器、粒子精密计数、计数成像,以及相关的快速电子学(皮秒)。这些产品可以为用户组建大型飞行动量谱仪、原子探针、电子显微镜和其他精密光学产品,提供显著的性能提高和各种便利。
产品照片
多路恒比甄别器
数字多路计数器
时间-数字转换器
电平转换器NIM-TTL
高压电源
主要技术参数
序号 | 产品名称 | 性能指标 | 参数 |
1 | 多路恒比甄别器 | 输入信号频率(最大) | 115MHz |
输入幅度范围 | -50mV至-1.5V | ||
输出抖动 | < 14ps | ||
步长 | < 30ps典型值 | ||
2 | 数字多路计数器 | 最大频率(周期输入信号) | 200MHz |
双脉冲分辨率 | 5ns | ||
3 | 时间-数字转换器 | 数字时间窗 | 27.4ps典型值,40µs(最大启停时间) |
可选触发频率范围 | 0Hz 至9MHz | ||
输入脉冲间隔(同一通道) | 5.5 ns | ||
最大事件速率 | 80MHz(最大) | ||
4 | 电平转换器NIM-TTL | 工作频率(最高) | 250MHz |
输出抖动 | < 14 ps | ||
5 | 高压电源 | 专为MCP设计,搭载过压保护等多种功能 | |
提供多种桌面式、机架式等多种形式 |
应用领域
序号 | 应用领域 |
1 | 电子和离子的飞行时间分析(TOF) |
2 | 时间相关或时间符合光子和粒子成像 |
3 | 用于x射线和电子能谱的门控成像 |
4 | 检测尺寸可达120mm的大面积真计数成像(XPS, UPS, EELS) |
5 | 电子能量和飞行时间分析仪(XPS, UPS, EELS) |
6 | 飞行时间光电电子显微镜(ToF PEEM) |
7 | 中能离子散射与飞行时间分析(MEIS - ToF) |
8 | 原子探针断层扫描/显微镜(APT, 3D-AP) |
9 | x射线吸收/发射光谱(XAS, XES) |
10 | 门控对比增强x射线皮秒成像 |
11 | 荧光寿命成像(FLIM, FLIM- fret) |
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