型号: | HiYield-EL |
产地: | 广东 |
品牌: | 东谱科技 |
评分: |
|
产品关键词:电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、外量子效率、发光量子产率测量系统、绝对量子效率、EQE、JV、IV、绝对发光量子产率测量系统 、CIE、色温、光谱功率分布 λ、辐射通量、光通量、相关色温(CCT)、显色指数(CRI)、电功率密度、积分球
▌ 产品简介
电致发光量子效率测量仪HiYield-EL是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员,用于对电致发光样品的发光特性进行精确测量。HiYield 系统能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量,得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数(量子效率EQE等)以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数;同时该系统集成了稳定性测试模块,可以对器件的老化过程进行测试,且同时得到器件老化过程的全面信息,即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数(通常的老化测试仪,仅对电流、电压和相对亮度进行测试),典型的包括电致发光效率/量子效率EQE、寿命测试、CIE、CRI、CCT、光谱响应、光谱功率分布、IV、JV、总光谱辐射通量、辐射通量、光通量、光效、光谱强度、峰值波长、FHWM等,广泛应用于各种类型的电致发光器件测量。
▌ 产品特点
□ 能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量,得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数(外量子效率等)以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数;
□ 集成了稳定性测试模块,可以对器件的老化过程进行测试,且同时得到器件老化过程的全面信息,即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数(通常的老化测试仪,仅对电流、电压和相对亮度进行测试);
□ 由软件控制测试过程,操作便捷,图表和数据实时显示;
□ 可快速、可靠对样品的测试过程进行追踪;
□ 具有实时测量、预测量、定制测量、扫描测量、时间依赖测量等丰富的测量模式。
▌ 产品功能
□ 效率参数:发光效率/外量子效率EQE、电流效率、功率效率等;
□ 电学参数:电压(V)、电流(I)、电流密度(J)、电功率(W)、电功率密度等;
□ 辐射度学:光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长等;
□ 色度学:CIE 色度坐标、相关色温(CCT)、MK-1(mred)、显色指数(CRI)、RGB 颜色值等;
□ 稳定性测试。
■ 包含测量模式
√ 电压扫描(含分段扫描、循环扫描等);
√ 电流扫描(含分段扫描、循环扫描等);
√ 恒压单点测量;
√ 恒流单点测量;
√ 稳定性测量:不同老化时间下测量。
▌ 产品应用
□ 量子点发光二极管(QLED)
□ 有机发光二极管(OLED)
□ 发光二极管(LED)
□ 钙钛矿发光二极管(PeLED)
□ 其它各种类型的电致发光器件等
▌ 规格型号
绝对法电致发光特性测量系统 | ||||
系列 | HiYield-EL | |||
光谱仪 | ||||
*光谱范围 | 210-980nm | 225-1000nm | 350-1050nm | 900-1700nm |
探测器 | 制冷CCD | |||
系统信噪比 | 1000:1 | |||
A/D分辨率 | 16/18 bit | |||
光学分辨率 | 0.14-7.7 nm FWHM | |||
动态范围 | 85000(典型) | |||
杂散光 | <0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm | |||
源表 | ||||
电压范围 | -210V~210V | |||
电流范围 | -1.05A~1.05A | |||
*分辨率 | 1pA / 100nV | 10fA-10nV | ||
积分球 | ||||
*材料 | Spectralon、PTFE、Spectraflect、BaSO4等 | |||
*内径 | 3.3 / 6 / 10 / 15 inch可选 | |||
*反射率 | 400至1500 nm,大于99% | >97% | @600 nm 97-98% | >95% |
软件 | ||||
测量模式 | 电压扫描(含分段扫描、循环扫描等); | |||
电流扫描(含分段扫描、循环扫描等); | ||||
恒压单点测量; | ||||
恒流单点测量; | ||||
稳定性测量:不同老化时间下测量。 | ||||
功能参数类别 | 效率参数(外量子效率、电流效率、功率效率等); | |||
电学参数:电压(V)、电流(I)、电流密度(J)、电功率(W)、电功率密度等; | ||||
辐射度学:光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长等; | ||||
色度学:CIE色度坐标、相关色温(CCT)、MK-1(mred)、显色指数(CRI)、RGB颜色值等; | ||||
稳定性测试。 | ||||
测量夹具 | ||||
*定制夹具 | 根据客户样品封装设计夹具 |
*该产品或参数可根据客户需求灵活配置
▌ 产品特点
相关产品
东谱科技飞行时间法迁载流子移率测量系统TOF
东谱科技瞬态光电流/光电压/光电荷测量系统TranPVC
Pina皮秒半导体激光器
NanoQ纳秒半导体激光器
Mic 微秒脉冲半导体光源
东谱科技电致发光综合测量仪/IVL测试系统/器件寿命测试系统
东谱科技多通道电致发光特性测量系统EL-Lab
东谱科技电致发光量子效率测量仪HiYield-EL
东谱科技瞬态光电流/光电压/光电荷测量仪TranPVC
瞬态光电压TPV测试
电子/空穴迁移率测量
东谱科技多通道光伏器件稳定性测量仪
东谱科技太阳能电池光伏特性测量系统
东谱科技电吸收光谱仪Excion
东谱科技稳瞬态荧光光谱仪 HiLight HS15
关注
拨打电话
留言咨询