电子/空穴迁移率测量
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参考价:面议
型号: FlyTOF
产地: 广东
品牌: 东谱科技
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TOF测量仪介绍

FlyTOF飞行时间法迁移率测量仪是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法(time-of-flight,TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性, 广泛适用于各类半导体材料, 如有机半导体、金属- 有机框架(metal-organic framework, MOF)、共价有机框架(covalent organic framework,COF)、钙钛矿材料等。


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FlyTOF基于我司的MagicBox主机研制而成,是一款高度集成化的光电测试系统,配备便捷的上位机控制和数据测量软件,可助力客户进行快速、准确的测量。


示例

NPB材料在不同电场下的TOF测试信号

NPB材料在不同电场下的迁移率和化学结构式


TOF测试图-有机半导体NPB-350-640.png

主要功能:

- 飞行时间法瞬态光电流测量

- 半导体中的载流子迁移率测量

- 电子/空穴迁移率的测量 

- 低温测量


东谱科技(广州)有限责任公司为您提供东谱科技电子/空穴迁移率测量FlyTOF,东谱科技FlyTOF产地为广东,属于其它服务,除了电子/空穴迁移率测量的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供东谱科技飞行时间法迁载流子移率测量系统TOF、东谱科技稳瞬态荧光光谱仪 HiLight HS15,Oriental Spectra客服电话,售前、售后均可联系。

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