RoHS检测仪目前市场上常见的类型是X射线荧光分析仪，又分为能量色散型和波长色散型，能量色散型因其技术原理及结构比波长色散型简单，现市场上比较常见，其技术原理：
特征X射线
放射性同位素源或X射线发生器放出的X射线或Γ射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时，会放射该原子所固有能量的X射线-特征X射线。
元素含量与特征X射线强度的关系
不同元素特征X射线能量各不相同，依此进行定性分析；再根据特征X射线强度大小，可进行定量分析。
可用函数关系式表示为：C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
式中：Kn(n=1,2,3…)表示第n号元素的待定系数
In(n=1,2,3…)表示第n号元素释放的特征X射线强度
由此可知只要通过标定确定系数Kn之后便可进行物质中元素的定量分析了。
在中华人民共和国境内生产、销售和进口电子信息产品过程中控制和减少电子信息产品对环境造成污染及产生其它公害，适用本办法。但是，出口产品的生产除外。
RoHS检测仪是为了控制生产商生产的产品中对人体健康有害的重金属含量。比如空调、洗衣机、吸尘器、热水器、手机、这些产品在人们生活中都会经常遇到，所以如果重金属超标会影响人体健康。建议生产商要严格控制重金属含量，保障广大消费者的健康。
ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。
波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=kE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
元素含量分析范围为1 PPm到99.99%
RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限高达1PPM；
测量时间：60-200秒
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）
三维自由度超大的样品腔设计，样品腔尺寸：Φ450 x 90 mm
一次可同时分析24个元素
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