天瑞仪器国产膜厚仪电镀测厚仪金属检测仪器XAU-4C

国产膜厚仪电镀测厚仪金属检测仪器

参考价：¥13.8万

型号：

XAU-4C

产地：

广东

品牌：

天瑞仪器

评分：

产品详情

国产膜厚仪电镀测厚仪 1.微小样品检测：小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm3.EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准测量。 4.先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。 5.高性能探测器

【详细说明】

国产膜厚仪电镀测厚仪 性能优势：

1.微小样品检测：小测量面积0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）

2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm

3.先进的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准测量。

4.先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。

5.高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25mm2探测器。

6.X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置。

一六仪器研制的测厚仪独特的光路交换装置，让X射线和可见光摄像同一垂直线，达到视觉与测试定位一体，且X光扩散度小；与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能，实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试；高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍，可以减少弧度倾斜放样带来的误差，同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。

国产膜厚仪电镀测厚仪 先进的EFP算法

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭发出EFP核心算法，结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

RoHS检测及标定

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