| 型号： | 多型号可选 |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | 梅特勒托利多 |
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超越系列分析天平
梅特勒-托利多超越系列分析天平的读数精度范围为0.002 mg到0.1 mg，量程较高可达320 g，可满足所有分析工作流程要求。
了解各种高级质量保障功能，如StatusLight、LevelControl、获得GWP认证的SmartGrid称量盘（在梅特勒-托利多现有产品中，较大程度减小了气流影响）以及用于检测和消除静电负荷的创新解决方案。
将您超越系列分析天平连接至LabX实验室软件，以获得对合规的全面支持，确保数据可靠性。
高级分析天平系列
梅特勒-托利多的高级分析天平和半微量天平读数精度可达0.01 mg，量程则高达320 g。
此类天平可靠、坚固，由于采用了MonoBloc称量传感器可提供精确的结果，通过USB、RS232以及蓝牙（可选）轻松实现了外围设备的数据传输和连接，还提供了直观的应用程序，实现高效的日常称量。 为了简化清洁，无需任何工具即可拆除天平上的QuickLock玻璃板。
质量保障功能可帮助您符合法规和行业标准要求。
标准分析天平系列
梅特勒-托利多的标准分析天平读数精度可达0.1 mg，量程高达220 g。
电磁力补偿(EMFC)称量传感器具有过载保护，可确保此类天平提供一致的可靠结果。 多个接口支持条形码读取器、打印机和PC连接线，实现轻松可追溯性和数据处理。 易于使用的应用程序简化了日常称量任务。
彩色TFT触摸屏带有清楚的图标和直观的指南，让用户能够高效操作梅特勒-托利多天平。
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