型号: | 法国CORDOUAN AMERIGO纳米粒度和 ZETA 电位二合一分析仪 |
产地: | 法国 |
品牌: | 法国Cordouan |
评分: |
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AMERIGO纳米粒度和 ZETA 电位二合一分析仪
AMERIGO 是一款全新的分析设备,用于表征纳米颗粒悬浮液,将纳米粒度分析和 Zeta 电位测量和在线原位纳米粒度分析三合为一。为用户提供多种实验条件下的一体化解决方案。面对不同的实验需求,用户无需购买多台设备。保证了数据的一致性和有效性
这款分析仪基于最先进的动态光散射 (DLS) 和激光多普勒电泳 (LDE) 技术,可实现高分辨率、准确和快速的测量。
这两种技术补充了纳米颗粒溶液的信息:纳米颗粒的粒度和制剂的稳定性。
主要特点和优势
·三合一仪器
·可以在标准样品池中进行测量
·或使用可更换的远程测量头(见下文)
·专为标准 10 mm x 10 mm 比色皿设计的样品室——无需特定耗材
·两种配置下的测量结果:背向散射 (170°) 或透射 (17°)
·高耐久性玻璃碳电极
·易于使用的专用分析软件
·数字式相关器——动态时间分辨和数据重述分析功能
·体积小巧
可更换的测量探头
原位测量头
特点
·原位非接触式测量:无污染风险
·兼具耐用性和紧凑性:易于集成到空间受限的环境中
·嵌入式可见激光校准光束:安装方便,精准定位
·工作距离/散射角可调节
·节省成本和时间:无需耗材,免去繁琐的批量取样
应用
·原位过程监控
·与其他仪器耦合
高浓度测量头
特点
·基于双厚度控制器 (DTC) 技术
·适用于高浓度和/或深色悬浮液(油墨、乳剂、原油等)
·无需耗材
· 可选配高浓度在线测量流样池
·紧凑:能够在密闭环境(手套式操作箱)中工作
应用
·受控环境中的测量
·常规实验室测量
AmeriQ 软件
这款纳米粒度测量和 Zeta 电位测量专用软件具备下列优点:
· 方便使用的直观用户界面
· 用户自定义的标准操作规程 (SOP)
· 软件相关处理机
· 可自定义动态时间分辨
· 增强型原始数据处理算法:多模态连续算法 (MCA) 和多模态离散算法 (MDA),以及标准累积量方法
· 动态粒度分布
· 详尽的溶剂数据库
· 报告模块
· 模拟模块
技术参数 | |
粒度范围 | 粒度:0.5 nm 至 10 µm / Zeta 电位:1 nm 至 100 µm |
样品浓度 | 0.0001% 至 40%(重量百分比)(因溶剂而异) |
Zeta 电位范围 | -500 mV 至 +500 mV |
样品池内温度控制范围 | 0°C 至 90°C;± 0.1°C(因比色皿材料而异) |
迁移率范围 | 10-10to 10-7 m2/V.s |
样品池 | 耐有机溶剂的光学级比色皿 |
样品量 | 通常为 750 µL(Hellma 比色皿:10 mm 光程) |
样品类型 | 水溶剂和有机溶剂;pH 值:1-14(因比色皿材料而异) |
最大样品电导率 | 300 mS/cm |
光纤输出(可选配) | 可连接外部原位测量头或DTC测量头 |
信号处理 | |
测量技术 | 动态光散射(DLS)/激光多普勒电泳(LDE) |
激光光源 | 高度可靠的50 mW 半导体激光器,@635 nm,配备自动光学衰减系统 |
探测器 | 雪崩光电二极管(APD) |
数据处理算法 | 实时相关处理/快速傅里叶变换 |
测量角度 | 粒度:170°(背向散射)和 17° / Zeta 电位:17° |
分辨率 | 迁移率 = 10-10 m2/V.s 或 Zeta = 0.1 mV(水中) |
硬件 | |
操作条件/储存条件 | 15°C 至 40°C / -10°C 至 50°C——相对湿度 < 70%,无冷凝 |
计算机接口 | USB 2.0/ Windows 10/32或64位 |
尺寸 | 33 cmx33cmx38cm (高x宽x深) |
重量 | 17 kg |
电源 | 100-115/220-240 VAC, 50/60Hz,最大功率100 W |
系统合规性 | |
CE 认证 | CE 认证产品——I 类激光产品,EN 60825-1:2001,CDRH |
ISO 标准 | 符合 ISO 13321 (1996) 和 ISO 22412 (2008) 标准、《美国联邦法典》第 21 卷第 11 部分电子数据签名管理(可选)、《ISO 13099-2 : 2012 – 胶体系统 – Zeta 电位测定方法 – 第 2 部分:光学方法》 |
附件和服务 | |
2 年保修 | |
AmeriQ® 软件和说明书 | |
原位或 DTC 远程测量头 | |
校准套件(可选) |
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