缺陷检测

缺陷检测

参考价:面议
型号: PULSAR 系列
产地: 上海
品牌: 晶诺微
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爱蛙科技
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产品详情

 

PULSAR L系列及PULSAR H系列是应用于电子、半导体工业领域的缺陷检测设备如WLP、PLP、晶圆制造前端工艺等,可实现从低分辨率到高分辨率的缺陷检测、分类、定位测量等功能。

缺陷检测.png

产品特点

  • 自主设计开发,拥有完全自主知识产权

  • 定位测量功能及缺陷检测功能

  • 高分辨率

  • 高数据率和高灵敏度图像处理系统

  • 高速并行的图像处理系统

  • 多功能可扩展的应用软件

 

产品参数

 

缺陷检测参数.png

 

 

 

 


爱蛙科技为您提供晶诺微缺陷检测 PULSAR 系列,晶诺微 PULSAR 系列产地为上海,属于国产其他晶圆缺陷检测设备,除了缺陷检测的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其他晶圆缺陷检测设备,爱蛙科技客服电话400-860-5168转5895,售前、售后均可联系。

售后服务
  • 产品货期: 30天
  • 培训服务: 安装调试现场免费培训

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