型号: | PULSAR 系列 |
产地: | 上海 |
品牌: | 晶诺微 |
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PULSAR L系列及PULSAR H系列是应用于电子、半导体工业领域的缺陷检测设备如WLP、PLP、晶圆制造前端工艺等,可实现从低分辨率到高分辨率的缺陷检测、分类、定位测量等功能。
产品特点
自主设计开发,拥有完全自主知识产权
定位测量功能及缺陷检测功能
高分辨率
高数据率和高灵敏度图像处理系统
高速并行的图像处理系统
多功能可扩展的应用软件
产品参数
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