LeaderweThermal EMMISentris_价格-深圳市立特为智能有限公司

产品详情

Optotherm Thermal Emmision Microscope/ 热发射显微镜系统，可用于微器件测温及失效分析如 IC，PCB，PCBA，LED等等电子产品的缺陷热点定位。

温度分辨率：< 0.001℃

光学分辨率：5um

低侦测功耗: <5uw

最快定位时间：< 5s

热发射显微镜系统(Thermal Emission microscopy system)，是半导体失效分析和缺陷定位的常用的三大手段之一（EMMI,THERMAL,OBIRCH）,是通过接收故障点产生的热辐射异常来定位故障点(热点/Hot Spot)位置。

而OPTOTHERM Sentris 热发射显微镜系统,标配LOCK IN THERMOGRAPHY锁相热成像技术，将锁相技术和热成像技术有机结合，获得超过1mk以上的温度分辨率，对uA级漏电流或微短路等导致的缺陷，提供了非常好的解决方案。

利用锁相技术，将温度分辨率提高到0.001℃，5um分辨率镜头，可以侦测uA级漏电流和微短路缺陷

深圳市立特为智能有限公司为您提供LeaderweThermal EMMISentris，LeaderweSentris产地为美国，属于进口红外热成像仪，除了Thermal EMMI的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供红外热分析显微镜、芯片开封机、EMMI,立特为客服电话400-860-5168转6017，售前、售后均可联系。

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售后服务

产品货期： 30天
培训服务：安装调试现场免费培训；额外提供免费培训

Business information

工商信息

信息已认证

企业名称: 深圳市立特为智能有限公司
企业类型: 有限责任公司
信用代码: 91440300319535293G
成立日期: 2014年11月12日
注册资本: 5000000
经营范围: 经营范围包括一般经营项目是：从事电子及半导体及与其相关联的领域，硬件及软件及相关产品的研发、销售及服务；机电一体化产品、自动化控制产品、生产及测试设备和软件产品、环保自动在线监测仪、计算机软件、信息系统物件的开发、销售，信息咨询服务；信息系统设计、集成、技术运行维护；集成电路设计、研发；国内贸易；货物及技术进出口

型号：	Sentris
产地：	美国
品牌：	Leaderwe
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