| 型号： | Sentris IC |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | Leaderwe |
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Optotherm Sentris ---高分辨率热成像无损缺陷定位系统
是一款高分辨率热成像无损缺陷定位系统，通过锁相信号处理技术和强大的算法软件，将异常点的微弱发热提取出来，达到0.001 ℃的温度分辨率，以及最低约5uw的检出限，5um的高分辨率定位。
无损分析---不破坏样品
系统具有超高灵敏度，无需对样品进行预处理，只需给样品上微弱的电流即可实现定位，对于样品量较少，已封装或封胶的产品，可以做到不需要开封或去胶就能无破坏定位，而对于PCB，则不需要传统方法的割线或切割等。
深圳市立特为智能有限公司（Shenzhen Leaderwe Intelligent Co., Ltd）作为OPTOTHERM中国区总代理，于2016年设立联合实验室,提供设备销售，验证，服务，技术支持等。
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