功率循环测试仪

功率循环测试仪

参考价:面议
型号: hustec
产地: 广东
品牌: --
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华科智源-功率循环老化设备主要是针对IGBT/SIC的封装可靠性行进行实验,通过控制实验条件再现IGBT封装的主要两种失效方式:键合线失效和焊料层老化。实验的关键是控制结温的波动范围以及最高温度,得到不同条件下的实验寿命,从而得到IGBT的寿命。

深圳市华科智源科技有限公司为您提供--功率循环测试仪hustec,--hustec产地为广东,属于国产半导体器件测试仪器,除了功率循环测试仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多半导体器件测试仪器,华科智源客服电话,售前、售后均可联系。

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