型号: | TTT-02-Kerr Microscope H2 |
产地: | 江苏 |
品牌: | 托托 |
评分: |
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磁光克尔显微镜综合测试设备,显微磁畴空间分辨率优于0.5微米,磁光克尔角分辨率优于0.1毫度,支持极向克尔、纵向克尔、横向克尔三种磁光克尔效应测量方式。在追踪平面内数百万点的磁畴动态信息的同时,可搭配探针台实现电学、磁学、光学同步观测。广泛应用于磁学和自旋电子学领域中磁光克尔效应,磁滞回线,磁畴翻转或扩展动态等观测。
相较于传统的单点磁滞回线测量仪,磁光克尔综合测试平台,可以追踪平面内数百万点的实时磁性动态信息。结合该测试平台提供的直流探针,高频探针,样品的测试无比便捷。当下自旋电子学或磁学的研究,已经由磁性驱动的翻转,发展到了直流电流驱动、脉冲电流驱动、微波脉冲驱动、光驱动等一系列的激励源作用下的深度研究。
托托科技(苏州)有限公司提供的标准系统按照性能优先,稳定性优先的设计思路,可以满足实验室研究及工业生产中各种相关材料的测试需求。标准设备中提供了磁场激励、电流激励等多种选项,是客户在自旋特性研究中的得力测试平台。
更多的选项可以根据客户需求选择升级。
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