尊敬的女士/先生:
非常荣幸地邀请您参加于2010 年7 月22 日(周四)下午在深圳东方银座酒店举行的“分立器件测试技术研讨会”
本次研讨会将由美国STI公司副总裁John Bailey与大家一起分享半导体分立器件的测试技术,STI分立器件测试仪的应用,并为您现场解答您关心的测试问题。
本次研讨会我们邀请了艾默生网络能源,山特,意法,安森美等知名企业,希望大家能够相互交流测试经验。对于与会者我们将有精美礼品奉送!
时间:2010 年7 月 22 日星期四 14:00-17:00
地址:深圳福田区深南大道竹子林东方银座酒店雅典厅
公交路线:乘公交车到竹子林站(深南大道北侧)即可到达酒店
地铁路线:乘坐地铁到竹子林站B出口,即可到达酒店
驾车路线:深南大道北侧,竹子林
酒店电话:0755-8350 0888
主办方:深圳市云帆兴烨科技有限公司 www.sinyee.cn
美国科学仪器测试公司
会议日程
日期 |
时间 |
主题 |
讲师 |
7月22 |
14:00-15:00 |
分立器件测试与ATE |
John |
7月22 |
15:00-15:15 |
Tea Break |
|
7月22 |
15:15-16:15 |
STI5000C 器件特性曲线扫描 |
John |
7月22 |
16:15-16:45 |
现场答疑 |
John |
7月22 |
16:45-17:00 |
国内客户案例分享 |
艾默生 |
报名方式
请填写下表e-mail至 caipf@sinyee.cn 或传真0755-83323909
如有疑问请致电(0755)83248861/13751095731 蔡鹏飞
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□其他 |
来源于:深圳市云帆兴烨科技有限公司
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