日立TM4000PlusⅡ台式电镜首次亮相——视频访北京天美高新科学仪器有限公司电镜销售副总监刁雪莲
导读：据悉，TM4000PlusⅡ刚从日本空运过来，直接进入展会，展会结束将入住北京的DEMO实验室。
仪器信息讯 2019年10月23日-26日，第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA2019)在北京国家会议中心召开。
会议期间，仪器信息网特别采访了北京天美高新科学仪器有限公司电镜销售副总监刁雪莲 ，请其为大家介绍日立最新推出的纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800以及台式扫描电子显微镜TM4000PlusⅡ的技术特点。据悉，TM4000PlusⅡ刚从日本空运过来，直接进入展会，展会结束将入住北京的DEMO实验室。
详细内容请查看视频：
来源于：仪器信息网
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