惠然科技携FE-SEM F6000亮相2023年全国电子显微学学术年会

10月27-30日，2023年全国电子显微学学术年会在东莞市会展国际大酒店顺利召开，来自全国高校院所、企事业单位、仪器技术企业等电子显微学领域专家学者出席参会，探讨电镜国产替代，解读行业新趋势。

作为科技创新的必要基础和重要成果，扫描电镜利用高能聚焦电子束扫描样品来观察物质的微观形貌表征，已成为用在高分辨率微区形貌分析中非常必要的大型精密仪器。惠然科技本次携场发射扫描电镜FE-SEM整机“风”系列 F6000亮相2023年全国电子显微学学术年会，吸引了业内同行驻足交流，并收获一致好评。

 

惠然科技展位现场

惠然科技FE-SEM整机“风”系列F6000是一款高分辨广适配热场发射扫描电子显微镜，采用惠然科技自主正向研发的电子光学系统，具有行业标准的纳米级分辨率，最高可达1 nm，具备8mm大视野、高速度、全自动三键成像三大核心技术特点。截至目前，FE-SEM F6000已申请注册磁电混合式电子束扫描偏转系统（注册商标为WR-HybriCol^TM）等多项自主研发专利技术，并于今年7月份顺利完成首台交付。除此之外，惠然科技具备广拓展平台化功能的“雅”系列Y6000以及高效能智能化的“颂”系列S6000也在研发与验证中取得重要突破进展。