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热电测量仪

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品牌

暂无

型号

ZEM-3(M10)

产地

亚洲日本

应用领域

暂无
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ZEM3(M10)用于测量半导体材料的塞贝克系数和电阻系数。通过红外加热炉可以将样品从室温加热到1000度,与传统的电阻炉相比,红外加热炉冷却速度更快,有效提高试验效率。
电阻率的测量使用四探针法,系统通过探针在每个温度点获取相应的电阻系数,无需对样品单独进行梯度加热;待样品加热温度稳定后,样品上下方的供电电极构成闭合回路,两电极之间的电势使热能转变为电能,系统检测到后自动进行塞贝克系数的测量。
该系统操作简捷,只要一位操作员就可快速准确地同时进行塞贝克系数和电阻系数两种参数的测量,为热电材料的开发研究提供了一种高效能工具。

热电测量系统技术参数:
1、 高温测试温度范围:室温~1000℃
2、 赛贝克系数:
测量方法:直流四端子法
赛贝克系数测试精度:-7%—7%
测量范围:10-6Ω—700Ω
3、 电导率:
测量方法:静态直流方式
电导率测试精度:-10%—10%;
测量范围:10-5V — 10V
4、 探头测试间距:建议距离4,6,8mm
5.  真 空 度: ≤0.1MPa
6、 气氛保护系统:可用Ar或He等保护气体
7、 可测试样品尺寸:
长方柱状: 3×3×(6-20)(mm×mm×mm);
圆柱状:¢(2~3.5)×(6-20)(mm×mm)。
8、 电源:230V / 110V   50Hz / 60 Hz
9、 冷却水需求:自来水或循环冷却水,水压1.5kgf/cm2或更高,流速7L/min或更高。
10、附件及要求:
10.1  一台连测试仪的电脑和打印机,以及相关的控制测量软件
10.1.1 电脑参数要求:
操作系统: Windows® XP Professional Service Pack 3 32bit或Windows® 7 Professional
CPU 双核
内存≥2GB
硬盘≥250GB
显示器:19吋液晶显示器
10.1.2 打印机要求:激光打印机(A4幅面)。
10.2  抽真空系统和冷却系统以及主机作为一整套提供。
10.3  热电偶1支。
10.4  售后相关测试软件免费升级。
11、售后服务:
11.1 技术服务:培训内容指的是仪器设备的基本原理、安装、调试、操作使用、样品制备和日常保养维修等。
11.2 性能试验与质量保证:对仪器设备的质量、规格、性能、数量进行详细和全面的检查,并出具检验证明,如有缺失,负责赔偿。
11.3  仪器设备的保修期为一年。
11.4  在保修期内,我方在接到用户要求对所购仪器设备进行维修时,在24小时之内给予答复,并派出维修人员在七日内到达用户现场进行维修服务。
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