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产品介绍：
美国Rtec公司变焦式三维形貌仪是微纳米级质量保证的光学三维粗糙度轮廓仪，其原理是采用目前世界领先的自动变焦(Focus-Variation)技术。该技术将小景深的光学系统与垂直扫描完美地结合在一起。
产品特点：
能够同时测量表面形貌和粗糙度
能够测量小半径和小角度
能够测量超过80°的斜面
可获得真实的表面颜色信息
具有较高的测量速度
适用于苛刻环境下的检测（有噪音或振动）
提供360°的形状和粗糙度测量
不同表面表征的检测（光滑表面或粗糙表面，样品无需专门处理）
SPIP专业数据分析软件
产品参数：
垂直分辨率：10nm
水平光学分辨率：300nm
水平取样距离：90nm
最大扫描高度：22mm
最大扫描面积：10000mm2
产品应用：
该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学元器件、金属、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。可测透明、半透明，高漫反射、低反射率，抛光、粗糙材料等(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)
曲率半径
三维和二维成像
薄膜厚度
台阶高度
孔洞深度
表面形貌测量
粗糙度测量
表面纹理测量
面积和体积的测量与分析
- 相关资料
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双模式三维形貌仪详细资料2012-09-05
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