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JMS-S3000基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪，采用日本电子独自研发的SpiralTOF模式离子光学系统，它创新的技术在学术界已广为人知，其超高的质量分辨率和超高的质量准确度，遥遥领先于传统的装置。最为重要的是这种高分辨率的获得，并不以牺牲灵敏度为代价。本装置领军质谱分析最新技术，特别是在合成高分子、材料化学、生物高分子领域满足了日新月异的科技发展和研究需求。
质谱工作模式：
标准模式 TOF
线性模式 TOF（选配件）
串联模式TOF/TOF （选配件）
质谱工作模式：
标准模式 TOF
线性模式 TOF（选配件）
串联模式TOF/TOF （选配件）
基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供，如您想了解更多关于基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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