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Scanning Thermal probe system热扫描探针系统，可以和任何主流的的AFM进行联用。可以同时获得形貌 & 纳米尺度的热导率以及温度分布，非常适合应用在纳米线/碳纤维/聚合物复合材料等领域
模块性能：
可以同时实现样品表面形貌扫描和材料相关热学性能测试
1） 温度；
2） 温度梯度变化曲线；
3） 定性热导率；
4） 相变温度；
5） 定性热容量；
模块优势：
1）高性价比，能实现热学扫描及热学性质测试的功能，价格仅为其为同类产品的一半；
2）精细测量，能达到20nm区域测温；
3）耐高温，针尖在700℃高温下也不易变形；
模块扫描机制：
目前国内的国家纳米科学中心，中山大学，美国希捷硬盘公司在华的工厂均采购了这个模块。
以下是一些典型的SThM热导率测试以及温度分布的测试案例：
1）左半部分纳米线的形貌图以及温度分布的对应，右半部分为碳膜/Bi2Te3（热电材料）的形貌图以及热导率图对应。
2）碳纤维与环氧树脂复合材料形貌与热导率对应
3）聚合物纤维PCL-Coll_形貌与温度分布对应
典型用户
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 国家纳米科学中心 | 2014-01-01 |
Appnano 热扫描探针系统信息由上海纳腾仪器有限公司为您提供，如您想了解更多关于Appnano 热扫描探针系统报价、型号、参数等信息，上海纳腾客服电话：400-860-5168转1679，欢迎来电或留言咨询。
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