台阶仪

报价 ¥10万 - 20万

品牌

暂无

型号

NanoMap-PS2

产地

美洲美国

应用领域

暂无
该产品已下架

进口

Aep Technology台阶仪


厚度47nm 标准样品,三次重复测量结果叠加   (无任何减噪修正,原始数据输出) 500um扫描, 2um探针

 

  NanoMap-PS2是一款专门为nm级薄膜测量研发的无需防震台即可测量的接触式台阶仪

      AFM同款位移传感器,超高精度

      压电陶瓷驱动扫描,绝对无内源振动

      自集成主动反馈式防震系统

      真正无需额外辅助防震系统,实现高重复性纳米测量

      纳米量级科学研究的必备产品

 

  NanoMap-PS2 台阶仪可以应用在半导体,光伏/太阳能,光电子,化合物半导体,OLED,生物医药,PCB封装等领域的薄膜厚度,台阶高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),划痕深度,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量方面。其高精度,高重复性,自动探索样品表面,自动测量深受广大客户欢迎。

  测量表面可以覆盖多种材料表面:金属材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,对于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高,稳定性好。热噪声是同类产品最低的。垂直分辨率可达0.1nm 。 可测表面,包括透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料,金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等;

  AEP的技术日新月异。 欲了解最新的产品性能参数,请与我们联系。
  
主要参数 :  

垂直分辨率           0.1nm

垂直最大量程         1000um
探针接触力           0.03mg-100mg

平台范围             直径150毫米(可选200毫米或更大)
高清图像             4级放大,彩色CCD
成像光源             双长寿命强光LED

金刚石探针           0.5um 到 25um 可选


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