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基于Phasics四波横向剪切干涉专利技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm，具有超高分辨率（160x120测量点）。确保非常精确的波前测量。结构紧凑，很容易集成到一个光学台用于镜头测试或镜头校准。它也适用于光学表面测试。
SID4-HR 光学器件测量 自适应光学
特点：
由于其独特的专利技术，Phasics的SID4-NIR波前传感器具备以下特点：
1.高分辨率：160x120测量点
2.高数值孔径测量：无需转镜头
3.消色差：1.5-1.6μm
4.结构紧凑：易于集成于光学系统
应用：
SID4 NIR主要应用镜头测试和光学系统校准。适用于所有的近红外光学，如用于电信领域或光谱和夜视设备。
镜头表征：实时提供MTF和畸变数据。结构紧凑，易于集成于试验台和生产线。
光学设备校准：它提供了一个非常准确的最小像差测量。
SID4 NIR产品参数：
波长范围 | 1500 - 1600 nm |
通光孔径 | 3.6 x 4.8 mm2 |
空间分辨率 | 29.6 μm |
采样点（相位/强度） | 160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相对灵敏度 | < 11 nm RMS |
相位精度 | 15 nm RMS |
动态范围 | ~ |
采样频率 | > 60 fps |
实时分析频率 | > 10 fps (full resolution) |
数据接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 44 x 33 x 57.5 mm |
重量 | ~250 g |
1年
否
有
1人/次
根据厂家保修条款
免费质保，易耗品不在保修范围。
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