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基于Phasics专利的四波横向剪切干涉技术，SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段（3-5，8-14μm）。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率（160×120个测量点）。非常适合红外目标与镜头测试或红外激光束测量（CO2，OPO激光…）。
SID4-Dwir 光学器件测量 自适应光学
特点：
由于其独特的专利技术技术，Phasics的SID4-Dwir波前传感器具备以下特点：
1.高分辨率：160x120测量点
2.双波长测量：3-5，8-14μm中远红外
3.消色差：可用于黑体辐射测量
4.高数值孔径测量：无需外加透镜
应用：
1.光学测量：SID4-Dwir是表征红外目标的完美工具（热成像和安全视觉），红外镜头（CO2激光）测量可出给MTF，PSF，以及泽尼克像差。消色差功能可在多波长下测试。
2.激光束测量：如CO2激光或红外OPO激光光源的特性测量，SID4-Dwir提供了一个全面的光束特性（像差，M2，强度分布，光束参数…）
SID4-Dwir产品参数：
波长范围 | 3-5和8-14μm |
通光孔径 | 10.88 x 8.16 mm2 |
空间分辨率 | 68 μm |
采样点（相位/强度） | 160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相对灵敏度 | 75nm RMS |
相位精度 | 25 nm RMS |
动态范围 | ~ |
采样频率 | 50 fps |
实时分析频率 | 10 fps (full resolution) |
数据接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 85 x 118 x 193 mm |
重量 | ~1.6k g |
1年
否
有
1人/次
根据厂家保修条款
免费质保，易耗品不在保修范围。
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