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基于Phasics专利的四波横向剪切干涉技术和焦平面非冷却相机的SID4 LWIR工作范围在长波红外8-14μm，结构紧凑，易于集成到光学平台用于长波红外激光束和光学元件测试。
SID4-Swir 光学器件测量 激光束测试
特点：
由于其独特的专利技术技术，Phasics的SID4-LWIR波前传感器具备以下特点：
1.高分辨率：160x108测量点
2.高发散光测量：无需转接透镜
3.消色差：8-14μm
4.紧凑：易于集成
应用：
元器件测试：SID4 LWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于热成像目标，安防，安防视觉。无色差，易于集成。
激光束测试：SID4 LWIR能用于测试光束特性（M2、Strehl比、强度分布，光束参数…）。也适用于远红外光束测量如CO2激光器、红外OPO激光源…
SID4-Lwir产品参数：
波长范围 | 8-14μm |
通光孔径 | 16 x 12 mm2 |
空间分辨率 | 100 μm |
采样点（相位/强度） | 160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相对灵敏度 | 75nm RMS |
相位精度 | 25nm RMS |
动态范围 | ~ |
采样频率 | 24 fps |
实时分析频率 | 10 fps (full resolution) |
数据接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 96 x 110 x 90 mm |
重量 | 850g |
1年
否
有
1人/次
根据厂家保修条款
免费质保，易耗品不在保修范围。
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