通过采用新开发的多毛细管,以及对探测器的优化,在实现照射半径等同于旧有型号FT9500X为30 μm(设想FWHM: 17 μm)的基础上,进一步将处理能力提高到了2倍以上。
产品阵容适应各类检测样本
针对检测样本的不同种类,可在下列3种型号中进行选择
测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号
能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型号
适合对陶瓷芯片电极部分中,过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型号
兼顾易操作性与安全性
放大了开口,同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性,并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险,让用户放心使用。
检测部位可见
通过设置大型观察窗、修改部件布局,使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。
清晰的样本图像
使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头,采用全数码变焦,从而消除位置偏差,可以清晰地观察数十μm的微小样本。
另外,亦采用LED作为样本观察灯,无需像以往的机型那样对灯泡进行更换。
新GUI
〉将各类检测方法、检测样本都以应用程序图标的形式进行了登记。图标皆为检测样本的照片、多层膜的图示等,因此登记、整理起来就很方便,从而使得用户可以不走弯路,直接进行检测。
〉使用检测向导窗口来指导操作。通过与检测画面联动,逐步引导用户执行当前所需进行的工作。
FT150 | FT150L | FT150H | |
测量元素 | AL(Z=13)~U(Z=92) | AL(Z=13)~U(Z=92) | AL(Z=13)~U(Z=92) |
X射线管 | Mo靶材 | ← | W靶材 |
管电压:45KV管电流:1mA以下 | ← | ← | |
检测器 | Si半导体检测器(SDD) | ← | ← |
照射径 | Ф:30μm (FWHM:17μm) | ← | Ф:35μm (FWHM:20μm) |
样品观察 | CCD摄像头 | ← | |
样品尺寸 | 400mm×300mm×100mm | 600mm×600mm×20mm | 400mm×300mm×100mm |
最大样品重量 | 10Kg | ← | ← |
应用程序 | 定性分析 | ← | ← |
薄膜检量线(单层、2层、2成分合金单层膜) | ← | ← | |
薄膜FP法(最多可测量5层、10个元素)等 | ← | ← | |
报告功能 | Microsoft Word/Excel | ← | ← |
电源 | AC100-240V | ← | ← |
仪器尺寸 | 930mm×900mm×710mm | 1030mm×1200mm×710mm | 930mm×900mm×710mm |
仪器重量 | 约160Kg | 约170Kg | 约160Kg |
具体的参数与应用方案请与天禧仪器销售人员联系
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