仪器简介:
·显示半导体器件的各种特性曲线
·测量半导体器件的静态参数
·能在不损坏器件的情况下,测量半导体器件极限参数
技术参数:
集电极电流范围:10μA/div~0.2A/div(可扩展×10);
集电极峰值电压范围:
0.05V/div~50V/div,分10档,误差不超过±5%;
基极电压范围:
0.05V/div~0.5V/div,分4档,误差不超过±5%;
阶梯电流范围:
5μA/div~10mA/div,分11档,误差不超过±5%;
阶梯电压范围:
0.05V~0.5V,分4档,误差不超过±5%;
串联电阻:0,10kΩ,误差不超过±10%;
簇数:0~10连续可调;
功耗限制电阻:0~100kΩ;
电流容量:0~50V/2A,0~500V/500mA;
容性电流:500V时小于5μA;
外形尺寸:160H×310W×450D(mm);
重量:约9.5kg;产地:中国
主要特点:
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