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反射膜厚测量仪
型号：-HS-100；波长范围：380 - 1000 nm；测量范围：10nm-100um
型号：-HS-200；波长范围：250 - 1000 nm；测量范围：2nm-100um
型号：-HS-300；波长范围：700 - 1200 nm；测量范围25nm-1mm
光斑尺寸：0.4 - 2 mm
膜厚测量范围1nm到1毫米
测量反射率，膜厚，颜色，折射率
透射测量仪
型号：A3-ST-100：波长范围380 - 780 nm
型号：A3-ST-200：波长范围250 - 1000 nm
光斑尺寸：0.4 - 2 mm
膜厚测量范围1nm到1毫米
测量透射率，膜厚，颜色，折射率
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Thetametrisis——膜厚测量、薄膜表征工具航空航天 2020-07-29
1年
是
有
2人到技术中心培训
3月1次
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