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台式双面电池PID测试仪

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品牌

Freiberg Instruments

型号

PIDcon bifacial

产地

欧洲德国

应用领域

共5个

双面电池问题:        

将电池的后侧改为光盖,被发现使双面PERC电池和模块对后侧的新型PID敏感,即去极化型PID(PID-p)和腐蚀型PID机制(PID-c)。

解决方案:        

为了测试电池的这些类型的PID,我们开发了PIDcon双面体。它是用温度、照明和高电压对完整的电池进行压力测试,它可以在两个方向上进行极化。通过测量照明下的IV曲线,可以确定PID的灵敏度。

应用:        

太阳能电池片PID检测

HIT、Topcon 、PERC、AL-BSF、PERC+、双面PERC、PERT、PERL和IBC太阳能电池的研究、生产和质量控制。

欲了解更多信息,请访问 www.pidcon.com        


PIDcon bifacial的特点:         

● 符合IEC62804-TS标准

● 易于使用的台式设备

● 能够测量c-Si太阳能电池和微型模块

● 无需气候室

● 无需层压电池

● 测量速度:小时至数天

● 可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、漏电流、湿度、温度

● 太阳能电池可以在以后通过EL等进行研究

● 基于IP的系统允许远程操作和技术支持从世界任何地方

 标准试验条件:        

● 电压:upto1.5kV

● 温度:85°C

● 测试时间:4hours(typical)

● 干燥条件下,不需要水

类型                          受压                                                     恢复
PID-s正面                85°C,+1.5 kV                             85°C,-1.5 kV

PID-p背面             85°C,+1.5 kV,无照明 85°C,        暗储存或光照

PID-c背面                   85°C,+1.5 kV, 照明                    不可恢复

层压      150°C,20min

样品尺寸   210×210mm

适用于 A   PERC,AL-BSF,IBC,PERC+,双面PERC,p型和n型电池 功率要求 110/230 V AC, 50/60 Hz

资质认证   根据ISO9001准则制造,符合CE标准


参考文献: cells  (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. Hähnel, S. Großer, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced  degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tröndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. Hähnel, S. Großer, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects  at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

(4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. Hähnel, S. Großer, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Großer, S. Richter, A. Hähnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under  Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. Pöblau, S. Großer, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible  PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential  Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.


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