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- 小于等于10mm
- 布鲁克
- 小于0.01nm
- 67kg
ContourX-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性，可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的
测量与分析功能
·易于使用的界面，可快速准确地获得结果
·自动化功能用于日常测量和分析
·广泛的滤镜和分析工具选项，用于粗糙度和关键尺寸测量分析
·满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告
先进计量设备
·基于超过四十年的专有WLI创新，ContourX-200光学轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声、高速、高精度的准确结果。
·通过使用多个镜头和集成的特征识别功能，设备可以在各种视野内以亚纳米垂直分辨率跟踪特征，可用于各种不同行业中的质量控制和过程监控应用。
·ContourX-200对于反射率从0.05％到100％的各种表面都非常易于测量。
高性能表面计量
·放大倍率无关的业界好Z轴分辨率
·大尺寸的标准视场
·稳定集成防震设计
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| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 高校 | 2017-08-02 |
| 实验室 | 2022-03-09 |
| 某厂商 | 2019-04-02 |
| 高校 | 2017-09-05 |
| 高校 | 2022-03-03 |
1年
否
无
现场操作培训
1年1次
免费更换部件，玻璃制品和耗材除外
24~48小时到达现场进行维修
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