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多功能光电测量系统

报价 ¥50万

品牌

Fluxim

型号

Paios 4.4

产地

欧洲瑞士

应用领域

暂无

简介:多功能光电测量系统主要用于太阳能电池在稳态,瞬态以及交流条件下的光电性能测量(载流子迁移率测量Photo-CELIV,瞬态光电流测量TPC、瞬态光电性能测量TPV、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS以及阻抗IS,CV等量测)为光电器件微观机理研究提供了有力的测试平台;多功能一体化高性能瞬态测试平台,不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等,还可以对瞬态光电流谱TPC,瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析,全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。


可量测器件类型:
     * 无机半导体光电器件,有机半导体光电器件;
     * 有机太阳能电池OPV;
     * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell,钙钛矿LED;
     * 无机太阳能电池(例如:单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池);
     * 染料敏化太阳能电池DSSC;


主要测量功能:

     * 最大功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强,迁移率(I-V测试 & I-V-L测试,空间电荷限制电流SCLC法)

     * 载流子浓度,载流子动力学过程(瞬态光电流法 TPC)

     * 载流子寿命,载流子符合动力学过程(瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV)

     * 载流子迁移率(暗注入瞬态法 DIT,单载流子器件&OLED)

     * 串联电阻,几何电容,RC时间(电压脉冲法 Pulse Voltage)

     * 参杂密度,电容率,串联电阻,载流子迁移率(暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV)

     * 载流子迁移率,载流子密度(光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV)

     * 载流子复合过程,朗之万函数复合前因子(时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV)

     * 不同工作点的载流子强度,载流子迁移率(注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV)

     * 几何电容,电容率(MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV)

     * 陷阱强弱度,等效电路(阻抗谱测试 IS)

     * 迁移率,陷阱强弱度,电容,串联电阻(电容VS频率 C-f)

     * 内建电压,参杂浓度,注入势垒,几何电容(电容VS电压 C-V)

     * 陷阱分析(深能级瞬态谱DLTS)

     * 载流子传输时间分析(强度调制光电流谱 IMPS);

     * 载流子复合时间、收集效率等分析(强度调制光光电压谱IMVS);

     * 点亮电压(电流电压照度特性 I-V-L)

     * 发光寿命,载流子迁移率(瞬态电致发光法 TEL)

     *载流子迁移率(TEL瞬态电致发光,Photo-CELIV线性增压抽取载流子)

     *OLED/钙钛矿LED发光特性测量(发光器件测量);


测量技术:   

   1)IV/IVL特性:IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法,通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系;

*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等;

   2)瞬态光电流(TPC):研究载流子动力学过程和载流子密度等;

   3)瞬态光电压(TPV):研究载流子寿命和复合过程;

   4) 双脉冲瞬态光电流(Double Transient Photocurrent):分析电荷载流子俘获动态过程;

   5) 暗注入瞬态法(Dark Injection):对于单载流子器件和OLED,研究其载流子迁移率;

   6) 电压脉冲法(Voltage Pulse):串联电阻、几何电容和RC效应分析;

   7) 暗态线性增压载流子瞬态法(Dark-CELIV):参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量;

   8) 光照线性增压载流子瞬态法(Photo-CELIV):提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility,及载流子浓度分析等;

   9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法(Delaytime-CELIV):复合动态过程分析和Langevin复合因子分析等;

   10)注入线性增压载流子瞬态法(Injection-CELIV):电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析;

   11)MIS-CELIV:载流子迁移率量测

   12)阻抗谱测量(Impedance Spectroscopy):器件等效电路分析等;

   13)电容频率测量法(C-f): 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量;

   14)电容电压测量法(C-V):内建电压、参杂浓度和几何电容等测量;

   15) 深能级瞬态谱(DLTS):陷阱分析;

   16)强度调制光电流谱(IMPS):载流子传输时间分析;

   17)强度调制光光电压谱(IMVS):载流子复合时间、收集效率等分析;

   18)瞬态电致发光测试(Transient Electroluminescence):抽取OLED器件的载流子,磷光寿命测量;

 

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应用案例:1.第三代太阳能电池的表征

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2. Consistent Device Simulation Model Describing Perovskite Solar Cells in Steady-State, Transient and Frequency Domain

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售后服务

1年

6人次技术培训,直到客户掌握软件为止。

3个月一次

免费更换失效的硬件,提供免费的技术支持和服务。

48小时达到客户现场

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