第五届“半导体材料与器件分析检测新技术”网络研讨会回放视频上线！
进入 #第五届半导体材料器件会议阅读更多话题内容
导读：2024年10月23日-25日，仪器信息网联合电子工业出版社、我要测网、北京普天德胜科技孵化器有限公司举办第五届“半导体材料与器件分析检测新技术”网络研讨会。部分报告回放视频已上线，欢迎大家点击回看。
2024年10月23日-25日，仪器信息网联合电子工业出版社、我要测网、北京普天德胜科技孵化器有限公司举办第五届“半导体材料与器件分析检测新技术”网络研讨会，并得到了岛津企业管理有限公司、安捷伦科技有限公司、珀金埃尔默企业管理有限公司、欧陆检测技术服务有限公司等多家仪器企业的大力支持。
会议共历时两天半，20余名专家和近千名观众围绕宽禁带半导体材料与器件，材料、器件的缺陷检测技术、失效分析和可靠性测试等热点分析检测技术展开线上讨论。会议过程中，听众积极参与，直播间氛围热烈。
经征求报告嘉宾意见，部分报告将设置视频回放，便于广大网友温故知新，详情见下表：
| 第五届半导体材料与器件分析检测新技术网络会议 | ||||
| 日期 | 报告时间 | 报告题目 | 报告嘉宾 | 回放链接 |
| 10月23日 | 专场一：第三代半导体材料及分析检测 | |||
| 09:30-10:00 | 宽禁带半导体/二维半导体异质集成及其光电探测应用 | 吴峰（华中科技大学 副研究员） | 回放 | |
| 10:00-10:15 | 欧陆埃文思上海检测服务简介 | 张卫民（欧陆埃文思材料科技（上海）有限公司 市场销售经理） | 回放 | |
| 10:15-10:30 | GDMS, ICP及IGA在高纯材料分析领域方面的应用 | 王珍（欧陆埃文思材料科技（上海）有限公司 高纯材料分析经理） | 回放 | |
| 10:30-11:00 | 氮化物半导体材料缺陷表征与缺陷调控研究 | 杨涵（北京大学 博士研究生） | 不回放 | |
| 11:00-11:30 | 第三代半导体材料元素分析解决方案及前沿探讨 | 应钰（安捷伦原子光谱应用工程师） | 回放 | |
| 11:30-12:00 | 二维层状半导体材料异（同）质结的光学特性研究 | 杨明明（河北农业大学 副教授） | 不回放 | |
| 午休 | ||||
| 14:00-14:30 | 氮化物半导体材料高分辨结构和物性研究 | 王涛（北京大学 高级工程师） | 不回放 | |
| 14:30-15:00 | NexION系列ICPMS在半导体材料元素分析中的解决方案 | 徐俊俊（珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司 资深工程师） | 回放 | |
| 15:00-15:30 | 二次离子质谱在SiC、GaN及GaAs等材料分析测试中的应用 | 姜自旺（欧陆埃文思材料科技（上海）有限公司 SIMS 经理） | 不回放 | |
| 15:30-16:00 | XRM,EMMI,XPS,AFM测试设备简介 | 李晔 （中国科学院半导体研究所 工程师） | 不回放 | |
| 16:00-16:30 | 应力场对二维材料的调制作用 | 汪彦龙（中国科学院大连化学物理研究所 副研究员） | 不回放 | |
| 10月24日 | 专场二：宽禁带半导体器件研究与应用 | |||
| 09:30-10:00 | 元器件寿命设计与评价 | 张乔木（工业和信息化部电子第五研究所 工程师） | 不回放 | |
| 10:00-10:30 | 高性能氧化镓基日盲紫外光电探测器的构建及表界面调控 | 程其进 （厦门大学 副教授） | 不回放 | |
| 10:30-11:00 | 氮化镓器件失效机理与可靠性评价 | 席善斌（国家半导体器件质量监督检验中心 副主任） | 不回放 | |
| 11:00-11:30 | 宽禁带半导体AlGaN沟道异质结材料与器件研究 | 李磊（天津大学 副教授） | 不回放 | |
| 11:30-12:00 | 氮化镓HEMT器件制造与新应用 | 黄火林（大连理工大学 教授） | 回放 | |
| 专场三：缺陷检测新技术 | ||||
| 14:00-14:30 | 半导体纳米材料及器件结构-性能关系的定量透射电子显微学研究 | 李露颖（华中科技大学，武汉光电国家研究中心 教授） | 不回放 | |
| 14:30-15:00 | XPS技术及其在半导体材料中的应用 | 吴金齐（岛津企业管理（中国）有限公司 应用工程师） | 回放 | |
| 15:00-15:30 | 半导体薄膜结构与器件的X射线分析 | 程国峰（中科院上海硅酸盐所 教授） | 不回放 | |
| 16:00-16:30 | 新型半导体材料缺陷特性表征技术及其应用研究 | 林乾乾（武汉大学 教授） | 不回放 | |
| 10月25日 | 专场四：可靠性及失效分析技术 | |||
| 09:30-10:00 | 电子产品寿命保障技术 | 刘树强（工信部电子第五研究所 高级工程师） | 不回放 | |
| 10:00-10:30 | 半导体器件互连可靠性设计与评价 | 卢桃（工信部电子第五研究所 高级工程师） | 不回放 | |
| 10:30-11:00 | 半导体元器件失效分析技术 | 江海燕（北京软件产品质量检测检验中心 项目经理） | 回放 | |
来源于：仪器信息网
热门评论
最新资讯
新闻专题
写评论…
0