OLED TOF测试系统介绍
OLED TOF测试系统是专门用于测量有机半导体材料电荷迁移率的专用设备。
飞行时间法(TOF)测量是表征有机半导体材料载流子迁移率的关键,TOF1000飞行时间测量系统基于脉冲激光和高速测量电子学进行标准飞行时间实验;有助于载流子迁移率随温度变化的研究.
- 有机半导体中的载流子输运
- 电子/空穴迁移率的测量
- 飞行时间法测量(TOF)
- 渡越时间分析(Transit Time Analysis)
- 低温测量
原理图:
结构配置图:
测量软件:
1年
否
有
现场培训
1年一次
免费更换非人为损坏的配件
24小时回应
相关产品