U-SMPS 2050X / 2100X / 2200X通用扫描迁移率粒度仪
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U-SMPS通用扫描迁移率粒度仪
U-SMPS 2050 X / 2100 X / 2200 X Palas 通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两种版本。长分类柱型号（2050 X / 2100 X / 2200 X型号）能够可靠地测定8至1,200 nm的粒径分布。已经集成软X射线源作为中和器。代替放射性中和（例如使用Kr-85）的优点是在运输过程中无需遵循以下要求。
Palas U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DEMC），也称为差分迁移率分析器（DMA）]，根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。
然后，冷凝颗粒计数器（例如Palas UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的优异单颗粒计数。 Wiedensohler教授（德国IfT莱比锡）开发了Palas 的算法，用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。
U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者每十个通道多达执行64个尺寸通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（广泛的统计和平均）和导出功能。
U-SMPS通常作为独立设备运行，也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）连接到计算机或网络。 Palas U-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。
U-SMPS的准确尺寸确定和可靠性能尤其重要，特别是对于校准。所有组件都通过严格的质量保证测试，并在内部组装。
用户界面和软件
基于持续的客户反馈，我们已设计良好的用户界面和软件，以实现直观的操作、实时控制，并可以显示测量数据和参数。
此外，软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。可以使用许多可用的显示选项和测量数据评估功能。
U-SMPS通用扫描迁移率粒度仪优点
粒径分布从8nm到1.2μm
连续和快速扫描的测量原理
高分辨率，多达128个尺寸类别/衰减
适用于高达108颗粒/立方厘米的浓度
可以连接其他制造商的各类DMA和纳米粒子计数器
图形显示测量值
直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI
集成数据记录仪
支持多种接口和远程访问
低维护
功能可靠
减少您的运营费用
U-SMPS通用扫描迁移率粒度仪应用行业
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