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FlyTOF飞行时间法迁移率测量仪是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法(time-of-flight，TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性， 广泛适用于各类半导体材料， 如有机半导体、金属- 有机框架（metal-organic framework, MOF）、共价有机框架（covalent organic framework,COF）、钙钛矿材料等。
FlyTOF基于我司的MagicBox主机研制而成，是一款高度集成化的光电测试系统，配备便捷的上位机控制和数据测量软件，可助力客户进行快速、准确的测量。
主要应用：
有机半导体；
金属-有机框架；
共价有机框架；
钙钛矿材料；
其它半导体材料。
主要功能：
飞行时间法瞬态光电流测量；
半导体材料电子/空穴迁移率测量；
二维材料迁移率测量（定制）。
目前东谱工程师验证测试过的半导体材料包括有机半导体、传统无机半导体、钙钛矿半导体、二维材料半导体、量子点半导体等，期待与您开拓更多FlyTOF的应用领域。
1年
是
有
至少1次培训
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