东谱科技电致发光量子效率测量仪HiYield-EL

报价 ¥1 - 5万

品牌

东谱科技

型号

HiYield-EL

产地

中国大陆广东

应用领域

暂无

产品关键词:电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、外量子效率、发光量子产率测量系统、绝对量子效率、EQE、JV、IV、绝对发光量子产率测量系统 、CIE、色温、光谱功率分布 λ、辐射通量、光通量、相关色温(CCT)、显色指数(CRI)、电功率密度、积分球


▌ 产品简介

电致发光量子效率测量仪HiYield-EL是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员,用于对电致发光样品的发光特性进行精确测量。HiYield 系统能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量,得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数(量子效率EQE等)以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数;同时该系统集成了稳定性测试模块,可以对器件的老化过程进行测试,且同时得到器件老化过程的全面信息,即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数(通常的老化测试仪,仅对电流、电压和相对亮度进行测试),典型的包括电致发光效率/量子效率EQE、寿命测试、CIE、CRI、CCT、光谱响应、光谱功率分布、IV、JV、总光谱辐射通量、辐射通量、光通量、光效、光谱强度、峰值波长、FHWM等,广泛应用于各种类型的电致发光器件测量。




▌ 产品特点

□ 能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量,得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数(外量子效率等)以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数;

□ 集成了稳定性测试模块,可以对器件的老化过程进行测试,且同时得到器件老化过程的全面信息,即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数(通常的老化测试仪,仅对电流、电压和相对亮度进行测试);

□ 由软件控制测试过程,操作便捷,图表和数据实时显示;

□ 可快速、可靠对样品的测试过程进行追踪;

□ 具有实时测量、预测量、定制测量、扫描测量、时间依赖测量等丰富的测量模式。




▌ 产品功能

□ 效率参数:发光效率/外量子效率EQE、电流效率、功率效率等;

□ 电学参数:电压(V)、电流(I)、电流密度(J)、电功率(W)、电功率密度等;

□ 辐射度学:光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长等;

□ 色度学:CIE 色度坐标、相关色温(CCT)、MK-1(mred)、显色指数(CRI)、RGB 颜色值等;

□ 稳定性测试。

■ 包含测量模式

√ 电压扫描(含分段扫描、循环扫描等);

√ 电流扫描(含分段扫描、循环扫描等);

√ 恒压单点测量;

√ 恒流单点测量;

√ 稳定性测量:不同老化时间下测量。




 产品应用

□ 量子点发光二极管(QLED)

□ 有机发光二极管(OLED)

□ 发光二极管(LED)

□ 钙钛矿发光二极管(PeLED)

□ 其它各种类型的电致发光器件等




▌ 规格型号

绝对法电致发光特性测量系统
系列HiYield-EL
光谱仪
*光谱范围210-980nm225-1000nm350-1050nm900-1700nm
探测器制冷CCD
系统信噪比1000:1
A/D分辨率16/18 bit
光学分辨率0.14-7.7 nm FWHM
动态范围85000(典型)
杂散光<0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm
源表
电压范围-210V~210V
电流范围-1.05A~1.05A
*分辨率1pA / 100nV10fA-10nV
积分球
*材料SpectralonPTFESpectraflectBaSO4
*内径3.3 / 6 / 10 / 15 inch可选
*反射率4001500 nm,大于99%97%@600 nm 97-98%95%
软件
测量模式电压扫描(含分段扫描、循环扫描等);
电流扫描(含分段扫描、循环扫描等);
恒压单点测量;
恒流单点测量;
稳定性测量:不同老化时间下测量。
功能参数类别效率参数(外量子效率、电流效率、功率效率等);
电学参数:电压(V)、电流(I)、电流密度(J)、电功率(W)、电功率密度等;
辐射度学:光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长等;
色度学:CIE色度坐标、相关色温(CCT)、MK-1mred)、显色指数(CRI)、RGB颜色值等;
稳定性测试。
测量夹具
*定制夹具根据客户样品封装设计夹具

*该产品或参数可根据客户需求灵活配置




▌ 产品特点








售后服务

1年

至少1次培训

提供保养

免费维修

24小时响应

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