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TOF测量仪介绍
FlyTOF飞行时间法迁移率测量仪是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法(time-of-flight，TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性， 广泛适用于各类半导体材料， 如有机半导体、金属- 有机框架（metal-organic framework, MOF）、共价有机框架（covalent organic framework,COF）、钙钛矿材料等。
FlyTOF基于我司的MagicBox主机研制而成，是一款高度集成化的光电测试系统，配备便捷的上位机控制和数据测量软件，可助力客户进行快速、准确的测量。
示例
NPB材料在不同电场下的TOF测试信号
NPB材料在不同电场下的迁移率和化学结构式
主要功能：
- 飞行时间法瞬态光电流测量
- 半导体中的载流子迁移率测量
- 电子/空穴迁移率的测量
- 低温测量
售后服务
1年
是
有
至少1次培训
提供保养
免费维修
24小时响应
电子/空穴迁移率测量信息由东谱科技（广州）有限责任公司为您提供，如您想了解更多关于电子/空穴迁移率测量报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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