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非接触式轮廓仪/粗糙度仪
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西班牙Sensofar大视野 3D光学轮廓仪S wide
S wide 是专用系统，适用于快速测量大样品区域，测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。
（一）、应用领域：大面积 3D 光学测量系统
? 先进制造业
? 考古学与古生物学
? 消费类电子产品
? 医疗设备
? 模塑
? 光学
? 钟表业
(二)、产品优势
1. 亚微米高度可重复性，可扩展整个区域内
2. 无需 Z 轴扫描即可测量最高 40mm 的单次测量高度
3. 具有极低场失真的双侧远心镜头，提供精确的测量
4. 可追溯性：采用ISO 标准
每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。
5. 与 3D CAD 模型的形状偏差：提供几何差异和公差测量
6. 表面纹理测量仪器的校准
我们的所有系统精心制造，提供准确、可追溯的测量。系统按照符合ISO 25178第 7 部分关于下列参数的指南的可追溯标准进行校准：Z 放大系数、XY 横向尺寸、平面度误差以及偏心度。
1年
是
有
免费培训3~5人，保证掌握使用
1年不少于一次定期巡检，免费维护
非人为损坏，免费更换零配件。
如遇问题，24小时内响应并维修
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