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SIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统是测试VIS-SWIR光谱波段敏感的成像探测器（或相机机芯）而开发的测试系统，能够测量光谱范围从400nm到2200nm的VIS-SWIR成像探测器（硅、黑硅、InGaAs）的辐射参数和光谱参数。可以测量以下参数：相对光谱灵敏度、响应度、噪声等效照度、D*（比探测率）和空间噪声。
SIT测试系统是两个主要模块的总和：波长和光强连续可调的校准光源SITO和IPS图像处理系统（PC、图像采集卡、软件）。被测探测器位于SITO光源的输出端，传感器受到所需波长和辐照度的光的均匀照射，被测探测器生产标准格式的图像，通过IPS系统采集并分析图像，确定VIS-SWIR成像探测器的重要参数。
产品参数
一般参数 | |
工作温度范围 | +5oC到+35oC |
储存温度范围 | -5oC 到+55oC |
湿度范围 | 高90**（无冷凝） |
重量 | 58kg |
尺寸 | 173 x 43 x 28 cm |
售后服务
1年
否
有
按照合同履行
无
免费维修
8小时内响应
SIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统信息由北京欧普特科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于SIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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