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漫反射荧光样品支架，XME-2303
描述
漫反射荧光样品支架，适用于测量平面样品的漫反射光谱和荧光光谱。XME-2303具备一组45o夹角的反射光路，可选配加装两片直径<10mm的滤光片。在荧光测量应用中，加装一片滤光片于激发光路，可用于消除激发光源除主峰外的杂峰；而另一片加装于收光光路，可用于滤除荧光光谱中的激发光谱。
特点
适用于测量平面样品的漫反射光谱和荧光光谱
可适用于任意尺寸的平面样品
微型结构，通过SMA905接口与光纤相连
内置准直镜，可选配加装滤光片
技术参数
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技术参数
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