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薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用QBG-3E或AS2853A数字Q表具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。
薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪
信号源范围DDS数字合成信号 | 10KHZ-70MHz | 10KHZ-110MHz | 100KHZ-160MHz |
信号源频率覆盖比 | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
信号源频率精度 6位有效数 | 3×10-5 ±1个字 | 3×10-5 ±1个字 | 3×10-5 ±1个字 |
采样精度 | 11BIT | 11BIT | 12BIT 高精度的AD采样，了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性 |
Q测量范围 | 1-1000自动/手动量程 | 1-1000自动/手动量程 | 1-1000自动/手动量程 |
Q分辨率 | 4位有效数,分辨率0.1 | 4位有效数,分辨率0.1 | 4位有效数,分辨率0.1 |
Q测量工作误差 | <5% | <5% | <5% |
电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH | 1nH-8.4H ,分辨率0.1nH | 1nH-8.4H 分辨率0.1nH | 1nH-140mH分辨率0.1nH |
电感测量误差 | <3% | <3% | <3% |
调谐电容 | 主电容30-540pF | 主电容30-540pF | 主电容17-240pF |
电容直接测量范围 | 1pF～2.5uF | 1pF～2.5uF | 1pF～25nF |
调谐电容误差 分辨率 | ±1pF或<1% 0.1pF | ±1pF或<1% 0.1pF | ±1pF或<1% 0.1pF |
谐振点搜索 | 自动扫描 | 自动扫描 | 自动扫描 |
Q合格预置范围 | 5-1000声光提示 | 5-1000声光提示 | 5-1000声光提示 |
Q量程切换 | 自动/手动 | 自动/手动 | 自动/手动 |
LCD显示参数 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 | F，L，C，Q，Lt，Ct波段等 |
自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能() | 有 | 有 | 有 |
大电容值直接测量显示功能() | 测量值可达2.5uF | 测量值可达2.5uF | 测量值可达25nF |
介质损耗系数 | 精度 万分之三 | 精度 万分之三 | 精度 万分之一 |
介损系数 | 万分之一 | 万分之一 | 万分之一 |
介电常数 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 | 精度 千分之一 |
材料测试厚度 | 0.1mm-10mm | 0.1mm-10mm | 0.1mm-10mm |
固体：材料测量直径Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可选；厚度可调≥ 15mm （二选一）
液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）
薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪特点：
1、自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
2、能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
3、调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
4、LCD屏菜单式显示多参数：Q值、测试频率、调谐状态等。
5、Q值量程自动/手动量程控制。
6、DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。信号源输出口，所以本机又是一台合成信号源。
7、测试装置符合国标GB/T 1409-2006，美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪介电常数测试仪按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。
例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。
高频介质样品(选购件)：
在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。
该样品由人工蓝宝石、石英玻璃、氧化铝陶瓷、聚四氟乙烯、环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。
7天
1年
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