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反射光谱膜厚仪SD-SR-100是一款专为薄膜厚度测量而设计的先进仪器。以下是对该产品的详细介绍:
1. 测量范围与精度:
- 该仪器能够测量从2纳米到3000微米的薄膜厚度,具有高达0.1纳米的测量精度。
2. 测量功能:
- 在折射率未知的情况下,SD-SR-100不仅可以测量薄膜的厚度,还能同时测量其折射率。
- 可用于测量半导体镀膜、手机触摸屏ITO等镀膜厚度、PET柔性涂布的胶厚、LED镀膜厚度、建筑玻璃镀膜厚度等多种应用场景。
3. 测试原理:
- 利用薄膜干涉光学原理进行厚度测量及分析。通过从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线,并根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。
4.软件支持:
- 配备易于安装和操作的基于视窗结构的软件,界面友好,操作简便。
- 软件功能强大,支持多层膜厚的测试,并可对多层膜厚参数进行测量。
- 提供大量的光学常数数据及数据库,支持多种折射率模型,如Cauchy, Cauchy-Urbach, Sellmeier等。
5. 特点与优势:
- 先进的光学设计和探测器系统,确保系统性能优越和快速测量。
- 光源设计独特,具有较好的光源强度稳定性。
- 提供多种方法来调整光的强度,以满足不同测量需求。
- 配备微电脑控制系统,大液晶显示和PLC操作面板,便于用户进行试验操作和数据查看。
- 支持自动和手动两种测量模式,以及实时显示测量结果的较小值、平均值以及标准偏差等分析数据。
6. 应用领域:
- 广泛应用于医疗卫生、生物产业、农业、印刷包装、纺织皮革等多个行业,特别是在薄膜分析领域表现出色。
综上所述,反射光谱膜厚仪SD-SR-100凭借其高精度、多功能和广泛的应用领域,成为薄膜厚度测量领域的理想选择。
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技术参数
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以上仅供参考,具体情况根据具体情况进行参考
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