仪器对比
关注
- 0.9 nm @ 30 kV，SE
- 肖特基热场发射电子枪
- 全自动控制
- 最大180 Pa
- X=110 mm，Y=110 mm，Z=
- 插入式扫描透射探测器（STEM）
- 光学导航、手势快捷导航
- 自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散
场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro是一款先进的分析仪器，它结合了场发射电子源的高亮度和高分辨率特性，为用户提供卓越的表面成像和微区分析能力。该设备适用于材料科学、生物学、地质学等多个领域的研究和质量控制。
SEM4000Pro采用了最新的电子光学系统设计，能够达到亚纳米级别的分辨率，即使在高放大倍数下也能提供清晰、细腻的图像。其独特的场发射电子枪技术，确保了稳定的高亮度电子束输出，从而获得高质量的图像和分析数据。
此外，SEM4000Pro配备了先进的电子探测器系统，包括二次电子探测器、背散射电子探测器等，能够满足不同样品的成像需求。用户可以通过这些探测器获取样品表面的形貌、成分和晶体结构等信息。
该显微镜还具备强大的样品处理能力，支持多种样品的加载，包括固体、粉末、薄膜等，并且具有高真空和低真空模式，以适应不同样品的测试环境。用户界面友好，操作简便，配合智能软件系统，可以轻松完成样品的定位、成像和分析。
总之，场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro是科研和工业领域中不可或缺的精密分析工具，它以卓越的性能和广泛的适用性，为用户提供了深入研究材料特性的强大支持。当然，以下是关于场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro产品介绍的续写：
除了上述的卓越性能外，SEM4000Pro还具备一系列高级功能，进一步提升了其在科研和工业应用中的价值。
首先，该显微镜支持三维成像技术，通过收集不同角度的二次电子信号，可以重建出样品表面的三维形貌。这一功能对于研究复杂结构材料的表面形态、孔隙分布等具有重要意义，为科研人员提供了更加直观、全面的样品信息。
其次，SEM4000Pro还配备了能量色散X射线光谱仪（EDS）等附件，能够在观察样品形貌的同时，进行元素成分分析。通过EDS分析，用户可以快速获取样品表面的元素种类、含量及分布信息，为材料表征和性能研究提供有力支持。
此外，该显微镜还具备自动化控制和远程操作功能。用户可以通过计算机远程控制显微镜的各项参数，实现样品的自动扫描、成像和分析。这一功能不仅提高了工作效率，还降低了操作难度，使得更多科研人员能够轻松上手使用。
在维护和保养方面，SEM4000Pro也表现出色。其设计充分考虑了易维护性和耐用性，使得设备的日常维护和保养变得简单快捷。同时，金山办公及其合作伙伴还提供专业的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中遇到任何问题都能得到及时解决。
综上所述，场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro凭借其卓越的性能、丰富的功能、便捷的操作以及专业的售后服务，成为了科研和工业领域中备受推崇的精密分析工具。无论是材料科学家、生物学家还是地质学家，都能在这款设备的帮助下，深入探索未知领域，推动科学研究的进步和发展。
30天
1年
安装调试现场免费培训
到货后3天内
24小时内
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1天内
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60天
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技术参数
不支持
以上仅供参考，具体情况根据具体情况进行参考
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