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明场纳米图形晶圆缺陷检测设备
产品介绍
TB系列明场纳米图形晶圆缺陷检测设备为全自动宽波段图形晶圆检测系统,可为8寸/12寸晶圆提供高效、高灵敏度的缺陷检测,可广泛应用在前道、后道各工艺层中,满足不同工艺节点缺陷检测需求。
产品特点
①高灵敏度,可侦测更多类型关键缺陷
②高数据通量和高性能数据处理,有效提高WPH
③采用先进信号处理算法,显著提高信噪比
④支持智能在线缺陷分类功能
产品货期: 30天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
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