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国产
高分辨CMOS半导体芯片
只旋转(RO)方式
纳米级
225 kV
0.5 μm
400 mm × 750 mm（直径×高度）
10 kg
2230 mm×1320 mm×2020 mm (长 x 宽 x 高)
科学级纳米CT
设备特点：
• 两级放大架构，无损纳米级成像
• 更优异的空间分辨率
• 流程简便，减轻工作人员的操作负担。射线源可在整个应用空间内使用多种探测器进行操作，无需手动重新配置硬件
检测应用：
• 复合材料分析
• 生物样品检测
• 微电子元件检测
• 纳米材料结构分析
射线源参数 | |
射线管类型 | 开管X射线源 |
管电压范围 | 20-225 kV |
管电流范围 | 0.05-1 mA |
最大运行功率 | 50 W |
探测器参数 | |
探测器类型 | CMOS面阵探测器 |
像素尺寸 | 49.5 μm |
像素矩阵 | 2940 × 4608 |
有效成像面积 | 146 mm×228 mm |
图像帧率 | 15 fps |
光学耦合探测器（选配） | 镜头倍率：0.5X，4X，10X，20X，40X 等 |
设备性能参数 | |
最大可放置 样品尺寸 | 400 mm × 750 mm（直径×高度） |
最大成像区域 | 300 mm × 120mm（直径×高度） |
计量精度 | 4.5um + L/50 |
JIMA卡分辨率 | 0.5 μm |
设备重量 | 10 T |
设备尺寸 | 2230 mm×1320 mm×2020 mm (长 x 宽 x 高) |
成像软件系统 | 一体式扫描成像软件；三维图像重建软件； 三维图像测量分析软件；影像数据库管理软件。 |
180天
1年
安装调试现场免费培训
到货后10天内
24小时内
1天内
是
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