仪器对比
关注
进口
样本下载
仪器简介：
对于软金属材料、多层膜材料、微电子及复合材料等，样品切割/抛光常常是一项难以逾越的技术障碍。因此要获得理想的SEM / EBSD分析结果也变得难上加难。
现在借助徕卡独创的三离子束截面抛光切割仪EM TIC3X 这项最新技术，可以快速高效“切割”样品，无应力层，无涂抹效应，可暴露样品内部真实结构信息，以便于SEM观察，或EBSD等分析。
三离子束可单独设置或统一设置，操作灵活性高
离子束加工过程中，样品不用做旋转等运动，保证了加工的目标区域的准确性；另外由于离子束轰击样品，会产生一定的热量，样品不用运动，保证了与底板的良好接触，保证了高效热传导。
对于软金属材料、多层膜材料、微电子及复合材料等，样品切割/抛光常常是一项难以逾越的技术障碍。因此要获得理想的SEM / EBSD分析结果也变得难上加难。
现在借助徕卡独创的三离子束截面抛光切割仪EM TIC3X 这项最新技术，可以快速高效“切割”样品，无应力层，无涂抹效应，可暴露样品内部真实结构信息，以便于SEM观察，或EBSD等分析。
三离子束可单独设置或统一设置，操作灵活性高
离子束加工过程中，样品不用做旋转等运动，保证了加工的目标区域的准确性；另外由于离子束轰击样品，会产生一定的热量，样品不用运动，保证了与底板的良好接触，保证了高效热传导。
- 相关仪器
徕卡三离子束截面抛光切割仪信息由上海江文国际贸易有限公司为您提供，如您想了解更多关于徕卡三离子束截面抛光切割仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
相关产品
